开尔文探针扫描系统_材料组织结构分析室_仪器设备_仪器设备_南昌航空大学分析测试中心
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开尔文探针扫描系统


功能介绍

开尔文探针(Kelvin Probe)是一种非接触无损震荡电容装置,用于测量导体材料的功函数(Work Function)或半导体、绝缘表面的表面势(Surface Potential),是一种最灵敏的表面分析技术。

应用范围:吸附,腐蚀,沉积,表面研究,电池系统,真空研究,功函数工程学。

样品要求:样品厚薄均匀,测定面洁净,上下底面水平。

主要特点

1、全球第一台商用的完全意义上的开尔文探针系统;

2、采用非零专利技术(Off-null,ON) ——ON信号探测系统在高信号水平下工作,与基于零信号原理(null-based,LIA)的系统相比,不会收到噪声的影响拥有高灵敏度;

3、高度调节专利技术 ——在测量和扫描时可以精确控制针尖的高度,保证了数据的高重现性且不会漂移;

4、快速响应时间 ——测量速度在0.1-10秒间;

5、功能强的驱动器 ——选用Voice-coil(VC)驱动器,与通常的压电驱动器相比,VC驱动器频率要稳定得多、控制的针尖振幅大得多、支持平行多探针操作、支持不同直径探针操作。

主要技术参数

12毫米,50微米探针;

2、功函数分辨率 1-3 meV(2毫米针尖)5-10 meV(50微米针尖)

3、针尖到样品表面距离可以达到400纳米以内;

4、功函数或表面势、样品形貌3维地图绘制。

 



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