超声波扫描显微镜 SAM300型_材料组织结构分析室_仪器设备_仪器设备_南昌航空大学分析测试中心
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超声波扫描显微镜 SAM300型

功能介绍

可用于封装内部结构分析,检测材料内部的缺陷位置、大小和分布状态等等,对粘层表面非常敏感,

能检测出气孔、裂纹、夹杂和分层等缺陷,是以波形级图像显示方式的一种无损检测工具。

 

主要技术参数

1) 扫描范围:250μm X 250μm 最大:320μm X 320μm

2)最大扫描速率:1500mm/s,加速度10m/S2

3) 重复精确度:正负0.1μm

4) Z-轴驱动:电机驱动,移动范围100mm

5)扫描模式: A-, B-, C-, D-, G-, P-,S-, T-, X-, 3D-, 顺序扫描, HQ扫描,包括渡越时间功能的A-scan

数字波形时间显示,实时3D扫描,预扫描和快速预扫描模式

6)射频接口:1X500MHz


 



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